
LODAS™ – AI50/100是列真株式會社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。
LODAS™ – BI8是列真株式會社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。
LODAS™ – BI12是列真株式會社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。
LODAS™ – LI系列是列真株式會社推出的一款FPD Photomask缺陷檢查裝置。
LODAS™ – CI8是列真株式會社推出的一款化合物半導體SiC、GaN晶圓檢查裝置。
海的超聲波顯微鏡以水作為耦合介質,將超聲波探頭與被測芯片浸沒,探頭發射的超聲波穿過水與塑封層,到達芯片內部界面(如 Die 與粘接層);通過分析界面反射回波的差異,即可識別粘接層空洞、分層、脫粘等缺陷,實現對芯片內部結構的非破壞性質量檢測